C 掃描成像原理

比方100*100的一個矩形工件，用C掃描掃查，每1mm*1mm記錄一個A掃描波形，100*100需要記錄10000個A掃描波形，根據這10000個A掃描波形的高低不同生成C掃描圖像，這就是C掃描成像的原理，也是對C掃描成像原理形象的解釋。

期望大家在選擇C掃描檢測的公司時多一份細心，少一份浮躁，不要錯過細節疑問。想要了解更多C掃描檢測的資訊，歡迎撥打網站上的熱線電話！！！

C 掃描優勢

優勢一：“點聚焦探頭”讓超聲能量高度集中，可以檢測出更細微的缺陷

C掃描使用點聚焦探頭，如圖1點聚焦探頭示意圖，通過探頭中的透鏡，把一束超聲波聚焦為1個點，能量高度集中，能發現更細微缺陷；

圖2 是實測的點聚焦探頭的聲場圖，檢測時把板厚置于焦柱范圍內即可，制作探頭時焦柱長度可控制在5~50mm。

圖1：點聚焦探頭示意圖

圖2：點聚焦探頭實測聲場圖

優勢二：“密集的步距”保證了掃查的高度精細化

常規A掃探傷時，步距一般是探頭晶片的尺寸，一般是10~20mm

但C掃描一般控制在0.1~3之間，當然步距太小會極大地降低檢測效率。

比如：如果人工檢測，用直徑20mm的探頭檢測，100*100的區域一般觀察25個點。C掃描選擇1mm步距時，是記錄了10000個點

25個點和10000個點相比，掃查的精細化顯而易見

超聲C掃描檢測設備

超聲C掃描檢測方式通常采用常規超聲探頭+雙軸掃查器的方式，但是隨著相控陣超聲技術及計算機技術的快速崛起，誕生了以超聲相控陣技術的C掃描檢測技術，即超聲相控陣多陣元探頭+雙軸掃查器的方式。相控陣超聲C掃描系統具有更高的精度和缺陷檢出率，更快的檢測速度和更高的圖像分辨率等優點，因此其具有更高的發展空間，必定是今后超聲C掃描檢測的主流。