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公司基本資料信息
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測(cè)厚儀
材料的鍍層厚度是一個(gè)重要的生產(chǎn)工藝參數(shù),其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果、導(dǎo)電性、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命,因此,鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過(guò)程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開(kāi)發(fā)的EDX8000B鍍層測(cè)厚儀是專(zhuān)門(mén)針對(duì)于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測(cè)定。其主要優(yōu)點(diǎn)是準(zhǔn)確,快速,無(wú)損,操作簡(jiǎn)單,測(cè)量速度快。可同時(shí)分析多達(dá)五層材料厚度,并能對(duì)鍍層的材料成分進(jìn)行快速鑒定。
蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司,英文名字:Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd.
公司logo和英文縮寫(xiě)為ESI。
英飛思ESI坐落于美麗而現(xiàn)代的蘇州工業(yè)園。
XRF鍍層測(cè)厚儀工作原理鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上,通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線的強(qiáng)度來(lái)測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度,因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí),測(cè)量的也可以在10秒-30秒內(nèi)完成。