7分鐘前 山東紅外顯微鏡價(jià)格在線咨詢「蘇州特斯特」[蘇州特斯特31ff5f9]內(nèi)容：

超清工業(yè)顯微鏡已經(jīng)升級為4K產(chǎn)品，其型號為;LY-WN-YC400，為4K技術(shù)顯示的超清顯微鏡，其光學(xué)性能和視頻成像顯示技術(shù)均得到進(jìn)一步提升，是對品質(zhì)有較高要求的客戶。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測試、檢測儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測試與檢測。設(shè)備主要來自于歐美日等先進(jìn)測試設(shè)備制造國家。

EMMI (Emission Microscopy)是用來做故障點(diǎn)定位、尋找亮點(diǎn)、熱點(diǎn)(Hot Spot)的工具。其具備高靈敏度的制冷式電荷(光)耦合組件(C-CCD)偵測器，可偵測組件中電子－電洞再結(jié)合時(shí)所發(fā)射出來的光子，其光波長在 350 nm ~ 1100 nm，此范圍相當(dāng)于可見光和紅外光區(qū)。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測試、檢測儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測試與檢測。

EMMI微光顯微鏡

微光顯微鏡（Emission Microscope, EMMI）是常用漏電流路徑分析手段。對于故障分析而言，微光顯微鏡（Emission Microscope, EMMI）是一種相當(dāng)有用且效率極高的分析工具。主要偵測IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中，EHP（Electron Hole Pairs）Recombination會放出光子（Photon）。如在P-N結(jié)加偏壓，此時(shí)N阱的電子很容易擴(kuò)散到P阱，而P的空穴也容易擴(kuò)散至N，然后與P端的空穴（或N端的電子）做EHP Recombination。在故障點(diǎn)定位、尋找近紅外波段發(fā)光點(diǎn)等方面，微光顯微鏡可分析P-N接面漏電；P-N接面崩潰；飽和區(qū)晶體管的熱電子；氧化層漏電生的光子激發(fā)；Latch up、Gate Oxide Defect、Junction Leakage、Hot Carriers Effect、ESD等問題.