CT檢測(cè)射線源

在高能電子束轉(zhuǎn)換為X射線的過(guò)程中，僅有小部分能量轉(zhuǎn)換為X射線，大部分能量都轉(zhuǎn)換成了熱，焦點(diǎn)尺寸越小，陽(yáng)極靶上局部功率密度越大，局部溫度也越高。實(shí)際應(yīng)用的功率是以陽(yáng)極靶可以長(zhǎng)期工作所能耐受的功率密度確定的。因此，小焦點(diǎn)乃至微焦點(diǎn)的的射線源的使用功率或大電壓都要比大焦點(diǎn)的射線源低。電子輻射發(fā)生器的共同缺點(diǎn)是X射線能譜的多色性，這種連續(xù)能譜的X 射線會(huì)引起衰減過(guò)程中的能譜硬化，導(dǎo)致各種與硬化相關(guān)的偽像。

CT檢測(cè)平板探測(cè)器

平板探測(cè)器通常用表面覆蓋數(shù)百微米的閃爍晶體（如CsI）的非晶態(tài)硅或非晶態(tài)硒做成。像素尺寸127 或200μm，平板尺寸大約45cm（18in）。讀出速度大約3～7.5幀/s。優(yōu)點(diǎn)是使用比較簡(jiǎn)單，沒(méi)有圖像扭曲。圖像質(zhì)量接近于膠片照相，基本上可以作為圖像增強(qiáng)器的升級(jí)換代產(chǎn)品。主要缺點(diǎn)是表面覆蓋的閃爍晶體不能太厚，對(duì)高能X 射線探測(cè)效率低；難以解決散射和竄擾問(wèn)題，使動(dòng)態(tài)范圍減小。在較高能量應(yīng)用時(shí)，必須對(duì)電子電路進(jìn)行射線屏蔽。一般說(shuō)使用在150kV以下的低能效果較好。

CT檢測(cè)樣品掃描系統(tǒng)

樣品掃描系統(tǒng)形式上像一臺(tái)沒(méi)有刀具的數(shù)控機(jī)床，從本質(zhì)上應(yīng)當(dāng)說(shuō)是一個(gè)位置數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，從重要性來(lái)看，位置數(shù)據(jù)與射線探測(cè)器測(cè)得的射線強(qiáng)度數(shù)據(jù)并無(wú)什么不同。僅僅將它看成一個(gè)載物臺(tái)是不夠的。設(shè)計(jì)掃描系統(tǒng)時(shí)首先需要考慮的是檢測(cè)樣品的外形尺寸和重量，要有足夠的機(jī)械強(qiáng)度和驅(qū)動(dòng)力來(lái)保證以一定的機(jī)械精度和運(yùn)動(dòng)速度來(lái)完成掃描運(yùn)動(dòng)。同時(shí)還要考慮，選擇適合的掃描方式和幾何布置，確定對(duì)機(jī)械精度的要求，并對(duì)各部分的精度要求進(jìn)行平衡。根據(jù)掃描和調(diào)試的要求選擇合適的傳感器以及在計(jì)算機(jī)軟件中對(duì)掃描的位置參數(shù)作必要的插值或修正等。

CT檢測(cè)X射線管

X射線管的設(shè)計(jì)有兩種形式：開(kāi)放管和閉合管。開(kāi)放管顧名思義是開(kāi)放式的，“這種技術(shù)要求在射線管內(nèi)建立一定的真空度，利用兩級(jí)真空泵不間斷地運(yùn)行來(lái)維持真空。”在這個(gè)過(guò)程中，大量的熱量從射線管被轉(zhuǎn)移到工作艙內(nèi)。在某型情況下，工作艙內(nèi)的溫度甚至可高達(dá)60~70℃。而在閉合管上，熱量由于被封閉在管內(nèi)，不容易轉(zhuǎn)移到工作艙內(nèi)。而進(jìn)一步配以合適的冷卻系統(tǒng)（根據(jù)功率高低采用空冷或液冷），這一問(wèn)題會(huì)得到較好的解決。所以

當(dāng)選擇X射線管形式時(shí)，要注意幾個(gè)方面的因素，其中一個(gè)便是射線管的熱量傳導(dǎo)。