真空袋薄膜測(cè)試設(shè)備的可溯源性,MOCON所用的值傳感器不需要校準(zhǔn) ,但MOCON公司仍提供可溯源到NIST的標(biāo)準(zhǔn)薄膜
,給客戶作為一個(gè)選擇性的驗(yàn)證手段 ,用戶只需要在驗(yàn)證儀器的時(shí)候使用。MOCON提供多種不同數(shù)量級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)溯源膜 ,只要這幾個(gè)標(biāo)準(zhǔn)膜的測(cè)量值在允許誤差范圍之內(nèi),根據(jù)線性關(guān)系
,就能保證儀器處于較好的狀態(tài) ,實(shí)現(xiàn)全量程上的測(cè)試精度。普通電化學(xué)傳感器(非庫(kù)侖電量法)的透氧儀由于使用的是相對(duì)值傳感器 ,所以它們必須要使用標(biāo)準(zhǔn)薄膜進(jìn)行校準(zhǔn)補(bǔ)償
,使用三張標(biāo)準(zhǔn)膜 ,其實(shí)只能對(duì)三種氧氣濃度梯度進(jìn)行校準(zhǔn) ,由于是非線性關(guān)系,這三個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)的準(zhǔn)確性并不能代表其他點(diǎn)的準(zhǔn)確性,因而不能保證全量程的準(zhǔn)確性。
真空袋薄膜等壓-紅外傳感器法 ,是目前公認(rèn)較好的水蒸氣透過(guò)率測(cè)試方法，采用與透氧儀相同的測(cè)試腔溫濕度控制技術(shù)
,保證了測(cè)試的準(zhǔn)確性。測(cè)試設(shè)備的可溯源性:MOCON公 司提供多種可溯源到NIsT的標(biāo)準(zhǔn)薄膜 ,可對(duì)設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)和標(biāo)定。和某些傳統(tǒng)方法的比較
:傳統(tǒng)的杯式法 ,測(cè)試精度差 ,人為因素影響很大,目前 ISO已經(jīng)淘汰這種測(cè)試方法。而且測(cè)試時(shí)間長(zhǎng) ,有時(shí)需要幾天 ,甚至幾個(gè)月的測(cè)試時(shí)間。傳統(tǒng)的電解法 ,需要先用吸濕劑來(lái)吸收水蒸氣
,再通過(guò)電極電解水蒸氣 ,再根據(jù)電解電流來(lái)判斷。這樣對(duì)水蒸氣進(jìn)行了二次處理過(guò)程 ,吸濕劑的效率 、電極的損耗都會(huì)影響測(cè)試的精度 ,累積誤差大。而且電解槽需要定期再生
,費(fèi)時(shí)費(fèi)力。
真空袋生產(chǎn)中紅外光譜，特性，紅外光譜法是鑒別聚烯烴薄膜的方便方法 ,主要的聚烯烴都可以很容易地鑒別出來(lái)。仔細(xì)分析紅外光譜能分清甚至是非常相似的結(jié)構(gòu)
,而且還可以測(cè)量支化度 , 結(jié)晶度也可以間接地測(cè)量出來(lái)。2.共混物和復(fù)合層的組分分析可以鑒別出聚烯烴的共混物 ,而 且組分已知時(shí) ,還 可以進(jìn)行定量分析。層分離后可以鑒別出復(fù)合層的組成
,也可以用紅外顯微鏡分析薄膜的切邊。3.表面分析，表面紅外光譜分析可以測(cè)量甘油單油酸酯、聚異丁烯、滑爽劑等表面添加劑和電暈處理。多童內(nèi)反射是常用的方法 ,但
鏡面反射和切線角反射也是很有用的技術(shù) ,它利用紅外光譜儀研究表面化學(xué)。圖 6-9是 利用多重內(nèi)反射分析薄膜表面的簡(jiǎn)圖。紅外光束與內(nèi)反射元素 (典 型的是鋅硒化物和鍺)表
面間的夾角和波長(zhǎng)決定了光束滲人薄膜表面的深度。滲透得淺 ,對(duì) 表面添加劑或改性劑的光譜更敏感。