探傷機(jī)校準(zhǔn)校準(zhǔn)與檢定的異同

校準(zhǔn)和檢定是兩個(gè)不同的概念，但兩者之間有密切的聯(lián)系。校準(zhǔn)一般是用比被校計(jì)量器具精度高的計(jì)量器具(稱為標(biāo)準(zhǔn)器具)與被校計(jì)量器具進(jìn)行比較，以確定被校計(jì)量器具的示值誤差，有時(shí)也包括部分計(jì)量性能，但往往進(jìn)行校準(zhǔn)的計(jì)量器具只需確定示值誤差，如果校準(zhǔn)是檢定工作中示值誤差的檢定內(nèi)容，那樣準(zhǔn)可說是檢定工作中的一部分，但校準(zhǔn)不能視為檢定，況且校準(zhǔn)對(duì)條件的要求亦不如檢定那么嚴(yán)格，校準(zhǔn)工作可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行，而檢定則須在檢定室內(nèi)進(jìn)行。

探傷機(jī)校準(zhǔn)要求

特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)(含綜合檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)、無損檢測(cè)機(jī)構(gòu)，下同)應(yīng)當(dāng)根據(jù)[2003]第373號(hào)令《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》的規(guī)定，經(jīng)特種設(shè)備安全監(jiān)督管理部門核準(zhǔn)，滄州歐譜方可從事特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)工作，并對(duì)檢驗(yàn)檢測(cè)結(jié)果、鑒定結(jié)論承擔(dān)法律責(zé)任。

這些經(jīng)核準(zhǔn)的特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，往往為了提高機(jī)構(gòu)的度、為了提高機(jī)構(gòu)的質(zhì)量管理水平、為了滿足客戶的要求，還會(huì)獲取計(jì)量認(rèn)證、實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可、檢查機(jī)構(gòu)認(rèn)可等資格。上述資格核準(zhǔn)、計(jì)量認(rèn)證、實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可、檢查機(jī)構(gòu)認(rèn)可的規(guī)則、準(zhǔn)則中，對(duì)無損檢測(cè)儀器設(shè)備均提出了檢定、校準(zhǔn)和核查等的要求。

探傷機(jī)校準(zhǔn)

由于超聲波經(jīng)過保護(hù)膜、耦合劑(直探頭)或有機(jī)玻璃楔塊(斜探頭)進(jìn)入待測(cè)工件，在缺點(diǎn)定位時(shí)，需將這局部聲程移去，才能得到超聲波在工件中實(shí)踐聲程。

零點(diǎn)通常是經(jīng)過已知聲程的試塊進(jìn)行調(diào)理，如CSK-IA試塊中的R100圓弧面(斜探頭)或深100mm的大平底(直探頭)。

K值校正

由于斜探頭探傷時(shí)不只要知道缺點(diǎn)的聲程，更要得出缺點(diǎn)的筆直和水平方位，因而斜探頭還要測(cè)定其K值(折射角)才能地對(duì)缺點(diǎn)進(jìn)行定位。K值通常是經(jīng)過對(duì)具有已知深度孔的試塊來調(diào)理，如用CSK-IA試塊50或1.5的孔。