3分鐘前 鹽漬脅迫電鏡技術服務價格合理「科銳諾」[科銳諾44070b2]內容：在放大倍數較低的時候，TEM成像的對比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成對電子的吸收不同而造成的。而當放大率倍數較高的時候，復雜的波動作用會造成成像的亮度的不同，因此需要知識來對所得到的像進行分析。通過使用TEM不同的模式，可以通過物質的化學特性、晶體方向、電子結構、樣品造成的電子相移以及通常的對電子吸收對樣品成像。臺TEM由馬克斯·克諾爾和恩斯特·魯斯卡在1931年研制，這個研究組于1933年研制了臺分辨率超過可見光的TEM，而臺商用TEM于1939年研制成功。

透射電鏡的總體工作原理是：由電子發射出來的電子束，在真空通道中沿著鏡體光軸穿越聚光鏡，通過聚光鏡將之會聚成一束尖細、明亮而又均勻的光斑，照射在樣品室內的樣品上；透過樣品后的電子束攜帶有樣品內部的結構信息，樣品內致密處透過的電子量少，稀疏處透過的電子量多；經過物鏡的會聚調焦和初級放大后，電子束進入下級的中間透鏡和、第2投影鏡進行綜合放大成像，終被放大了的電子影像投射在觀察室內的熒光屏板上；熒光屏將電子影像轉化為可見光影像以供使用者觀察。本節將分別對各系統中的主要結構和原理予以介紹。

透射電鏡的終成像結果，顯現在觀察室內的熒光屏上，觀察室處于投影鏡下，空間較大，開有1～3個鉛玻璃窗，可供操作者從外部觀察分析用。對鉛玻璃的要求是既有良好的透光特性，又能阻斷X射線散射和其他有害射線的逸出，還要能可靠地耐受極高的壓力差以隔離真空。由于電子束的成像波長太短，不能被人的眼睛直接觀察，電鏡中采用了涂有熒光物質的熒光屏板把接收到的電子影像轉換成可見光的影像。觀察者需要在熒光屏上對電子顯微影像 進行選區和聚焦等調整與觀察分析，這要求熒光屏的發光，光譜和余輝適當，分辨力好。多采用能發黃綠色光的硫化鋅-鎘類熒光粉做為涂布材料，直徑約在15～20cm。

掃描電子顯微鏡（scanning electron microscope，SEM）是一種用于高分辨率微區形貌分析的大型精密儀器 。具有景深大、分辨率高，成像直觀、立體感強、放大倍數范圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富，幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結構、成分和結晶學信息等優點。目前，掃描電子顯微鏡已被廣泛應用于生命科學、物理學、化學、、地球科學、材料學以及工業生產等領域的微觀研究，僅在地球科學方面就包括了結晶學、礦物學、礦床學、沉積學、地球化學、寶石學、微體古生物、天文地質、油氣地質、工程地質和構造地質等。