4分鐘前 透射電鏡三維重構檢測技術服務價格合理 科銳諾生物科技[科銳諾44070b2]內容：衍射圖樣的動態范圍通常非常大。對于晶體樣品，這個動態范圍通常超出了CCD所能記錄的大范圍。因此TEM通常裝備有膠卷暗盒以記錄這些圖像。對衍射圖樣點對點的分析非常復雜，這是由于圖像與樣品的厚度和方向、物鏡的失焦、球面像差和色差等等因素都有非常密切的關系。盡管可以對格點圖像對比度進行定量的解釋，然而分析本質上非常復雜，需要大量的計算機來計算。衍射平面還有更加復雜的表現，例如晶體格點的多次衍射造成的菊池線。在會聚電子束衍射技術中，會聚電子束在樣品表面形成一個極細的探針，從而產生了不平行的會聚波前，而匯聚電子束與樣品的作用可以提供樣品結構以外的信息，例如樣品的厚度等等。

還有一種新型的電子場發射式電子qiang，由1個陰極和2個陽極構成，陽極上施加一稍低（相對第2陽極）的吸附電壓，用以將陰極上面的自由電子吸引出來，而第2陽極上面的極高電壓，將自由電子加速到很高的速度發射出電子束流。這需要超高電壓和超高真空為工作條件，它工作時要求真空度達到10-7Pa，熱損耗，使用壽命可達2000 h；電子束斑的光點更為尖細，直徑可達到10nm以下，較鎢絲陰極（大于10nm）縮小了3個數量級；由于發光，它發出光斑的亮度能達到10 A/cm·s，較鎢絲陰極（106 A/cm·s ）也提高了3個數量級。場發射式電子因技術先進、造價昂貴，只應用于高分辨電鏡當中。

電子顯微鏡的工作是進入微觀世界的工作。我們平常所說的微乎其微或微不足道的東西，在微觀世界中，這個微也就不稱其微，我們提出用納米作為顯微技術中的常用度量單位，即1nm=10-6mm。

掃描電鏡成像過程與電視成像過程有很多相似之處，而與透射電鏡的成像原理完全不同。透射電鏡是利用成像電磁透鏡一次成像，而掃描電鏡的成像則不需要成象透鏡，其圖象是按一定時間、空間順序逐點形成并在鏡體外顯像管上顯示。

二次電子成象是使用掃描電鏡所獲得的各種圖象中應用泛，分辨本領的一種圖象。我們以二次電子成象為例來說明掃描電鏡成象的原理。

為什么會出現這樣奇怪的現象？為什么更好的分辨率卻沒有得到更真實的圖像？前面我們已經說到，電子束是由掃描線圈的脈沖信號控制，電子束在試樣表面并不是連續掃描，而是逐點跳躍式的掃描。一般掃描電鏡的采集像素比較大，我們會誤以為是連續掃描。既然掃描電鏡是束斑間斷跳躍式的軌跡，那么電子束就有一定的覆蓋面積。

束斑中心的距離取決于放大倍數和采集像素大小。當束斑較大時，束斑覆蓋比較；但是當束斑減小時，束斑的覆蓋區域也越來越小，所以有的特征形貌會從束斑兩個跳躍中心穿過而沒有被覆蓋到，所以相應的形貌特征也不會反映在圖像上，這就造成了信息的丟失。像上述例子，在大倍數小，束斑之間跳躍間距小，足夠覆蓋特征形貌，但是縮小倍數后，跳躍距離變大，束斑不足以覆蓋所有的特征形貌，有的線條就反映不出來。