3分鐘前 臺(tái)州EMMI微光顯微鏡承諾守信「蘇州特斯特」[蘇州特斯特31ff5f9]內(nèi)容：

自動(dòng)聚焦顯微鏡的研究在高倍率顯微圖像的處理過(guò)程中,自動(dòng)聚焦具有重要意義。本文對(duì)動(dòng)態(tài)自動(dòng)聚焦顯微鏡的清晰度自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)和高精度位置隨動(dòng)系統(tǒng)進(jìn)行了分析,提出了理想的清晰度檢測(cè)方法評(píng)價(jià)參數(shù)的特征,敘述了微分峰值檢測(cè)法的原理、實(shí)驗(yàn)結(jié)果、 控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和整機(jī)性能評(píng)價(jià)。如有您需要訂購(gòu)，歡迎來(lái)電咨詢(xún)我們公司，為您提供詳細(xì)介紹！

微光顯微鏡偵測(cè)不到亮點(diǎn)之情況：不會(huì)出現(xiàn)亮點(diǎn)的故障 - 歐姆接觸；金屬互聯(lián)短路；表面反型層；硅導(dǎo)電通路等。亮點(diǎn)被遮蔽之情況 - Buried Juncti及Leakage sites under metal，這種情況可以采用backside模式，但是只能探測(cè)近紅外波段的發(fā)光，且需要減薄及拋光處理。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類(lèi)測(cè)試、檢測(cè)儀器設(shè)備的代理銷(xiāo)售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線(xiàn)纜線(xiàn)束的測(cè)試與檢測(cè)。

EMMI (Emission Microscopy)是用來(lái)做故障點(diǎn)定位、尋找亮點(diǎn)、熱點(diǎn)(Hot Spot)的工具。其具備高靈敏度的制冷式電荷(光)耦合組件(C-CCD)偵測(cè)器，可偵測(cè)組件中電子－電洞再結(jié)合時(shí)所發(fā)射出來(lái)的光子，其光波長(zhǎng)在 350 nm ~ 1100 nm，此范圍相當(dāng)于可見(jiàn)光和紅外光區(qū)。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類(lèi)測(cè)試、檢測(cè)儀器設(shè)備的代理銷(xiāo)售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線(xiàn)纜線(xiàn)束的測(cè)試與檢測(cè)。