對(duì)比試樣校準(zhǔn)測(cè)量前的準(zhǔn)備

1. 對(duì)比試樣的人工缺陷應(yīng)使用酒精或C?H?O進(jìn)行清洗，用濾紙擦干，保持表面清潔，無(wú)銹蝕、金屬屑、毛刺、污染物等影響測(cè)量的缺陷。

2. 將對(duì)比試樣人工缺陷平行放置在載物臺(tái)上(必要時(shí)使用合適的工裝予以固定)，調(diào)整試樣，使人工槽長(zhǎng)度或?qū)挾确较蚺c顯微測(cè)量設(shè)備的X或Y軸平行。

3. 顯微鏡在合適的明場(chǎng)條件下，先用低放大倍數(shù)（10×或20×）找到人工缺陷位置，再換至高放大倍數(shù)對(duì)試樣聚焦，調(diào)整載物臺(tái)及試樣，使人工缺陷處于視場(chǎng)中央。調(diào)整測(cè)量設(shè)備，使測(cè)量面聚焦清晰，選擇測(cè)量點(diǎn)位。

對(duì)比試樣校準(zhǔn)概述

是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的厚度計(jì)；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì)；有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有利用機(jī)械接觸式測(cè)量原理的測(cè)厚儀等。用于測(cè)定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構(gòu)件在制造和檢修時(shí)必須測(cè)量其厚度，以便了解材料的厚薄規(guī)格，各點(diǎn)均勻度和材料腐蝕、磨損程度；

對(duì)比試樣校準(zhǔn)測(cè)量結(jié)果差別大？

探頭的放置方法對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與被測(cè)件外表堅(jiān)持筆直。而且探頭的放置時(shí)刻不宜過(guò)長(zhǎng)，避免形成基體本身磁場(chǎng)的攪擾。測(cè)量時(shí)不要拖動(dòng)探頭，由于這么不僅對(duì)探頭會(huì)形成磨損，也不會(huì)得到的測(cè)量成果。別的，基體金屬被磁化、基體金屬厚度過(guò)小、工件曲率過(guò)小、測(cè)量基座外表有銹蝕、測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)周圍有電磁場(chǎng)攪擾等要素都有也許致使測(cè)量成果的反常，假如離電磁場(chǎng)十分近時(shí)還有也許會(huì)死機(jī)。

對(duì)比試樣校準(zhǔn)使用注意事項(xiàng)

1.在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似?！　?/p>

2.在測(cè)量的時(shí)候要注意，側(cè)頭與試樣表面保持垂直。　　

3在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。　

4.在測(cè)量的時(shí)候要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的?！　?/p>