對比試樣校準測量前的準備

1. 對比試樣的人工缺陷應使用酒精或C?H?O進行清洗，用濾紙擦干，保持表面清潔，無銹蝕、金屬屑、毛刺、污染物等影響測量的缺陷。

2. 將對比試樣人工缺陷平行放置在載物臺上(必要時使用合適的工裝予以固定)，調整試樣，使人工槽長度或寬度方向與顯微測量設備的X或Y軸平行。

3. 顯微鏡在合適的明場條件下，先用低放大倍數（10×或20×）找到人工缺陷位置，再換至高放大倍數對試樣聚焦，調整載物臺及試樣，使人工缺陷處于視場中央。調整測量設備，使測量面聚焦清晰，選擇測量點位。

對比試樣校準概述

是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。用于測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構件在制造和檢修時必須測量其厚度，以便了解材料的厚薄規格，各點均勻度和材料腐蝕、磨損程度；

對比試樣校準測量結果差別大？

探頭的放置方法對測量有很大影響，在測量中應使探頭與被測件外表堅持筆直。而且探頭的放置時刻不宜過長，避免形成基體本身磁場的攪擾。測量時不要拖動探頭，由于這么不僅對探頭會形成磨損，也不會得到的測量成果。別的，基體金屬被磁化、基體金屬厚度過小、工件曲率過小、測量基座外表有銹蝕、測量現場周圍有電磁場攪擾等要素都有也許致使測量成果的反常，假如離電磁場十分近時還有也許會死機。

對比試樣校準使用注意事項

1.在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。　　

2.在測量的時候要注意，側頭與試樣表面保持垂直。　　

3在進行測試的時候要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。　

4.在測量的時候要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。