原子熒光光譜儀

原子熒光光譜法是通過測量待測元素的原子蒸氣在輻射能激發下產生的熒光發射強度，來確定待測元素含量的方法。氣態自由原子吸收特征波長輻射后，原子的外層電子從基態或低能級躍遷到高能級經過約10-8s，又躍遷至基態或低能級，同時發射出與原激發波長相同或不同的輻射，稱為原子熒光。原子熒光分為共振熒光、直躍熒光、階躍熒光等。發射的熒光強度和原子化器中單位體積該元素基態原子數成正比，式中：I f為熒光強度；φ為熒光效率，表示單位時間內發射熒光光子數與吸收激發光光子數的比值，一般小于1；Io為激發光強度；A為熒光照射在檢測器上的有效面積；L為吸收光程長度；ε為峰值摩爾吸光系數；N為單位體積內的基態原子數。原子熒光發射中，由于部分能量轉變成熱能或其他形式能量，使熒光強度減少甚至消失，該現象稱為熒光猝滅。

共振原子熒光

原子吸收輻射受激后再發射相同波長的輻射，產生共振原子熒光。若原子經熱激發處于亞穩態，再吸收輻射進一步激發，然后再發射相同波長的共振熒光，此種共振原子熒光稱為熱助共振原子熒光。如In451.13nm就是這類熒光的例子。只有當基態是單一態，不存在中間能級，沒有其它類型的熒光同時從同一激發態產生，才能產生共振原子熒光。

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“AFS”的原理

原子熒光光譜法(atomic flurescenc spectrometry，AFS)是一種基于測量原子蒸氣吸收特定輻射被激發后去激發所發射出的特征譜線強度進行定量的元素痕量分析的發射光譜分析法，是在20世紀60年代中期提出并迅速發展起來的一種新型痕量光譜分析方法，是原子光譜法中的一個重要分支。原子熒光光譜法所用儀器與原子吸收光譜法相近。

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元素分析

原子吸收光譜分析，由于其靈敏度高、干擾少、分析方法簡單快速，現已廣泛地應用于工業、農業、生化、地質、冶金、食品、環保等各個領域，目前原子吸收已成為金屬元素分析的強有力工具之一，而且在許多領域也作為標準分析方法。 原子吸收光譜分析的特點決定了它在地質和冶金分析中的重要地位，它不僅取代了許多一般的濕法化學分析，而且還與X- 射線熒光分析，甚至與中子活化分析有著同等的地位。目前原子吸收法巳用來測定地質樣品中70多種元素，并且大部分能夠達到足夠的靈敏度和很好的精密度。鋼鐵、合金和高純金屬中多種痕量元素的分析現在也多用原子吸收法。 原子吸收在食品分析中越來越廣泛。食品和飲料中的20多種元素也有滿意的原子吸收分析方法。生化和臨床樣品中必需元素和有害元素的分析現已采用原子吸收法。有關石油產品、陶瓷、農業樣品、和涂料中金屬元素的原子吸收分析的文獻報道近些年來越來越多。水體和大氣等環境樣品的微量金屬元素分析已成為原子吸收分析的重要領域之一。 利用間接原子吸收法尚可測定某些非金屬元素。