電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS)

電感耦合等離子體質譜儀(簡稱ICP-MS)，是20世紀80年代發展起來的一種新的微量(10-6)、 痕量 (10-9)和超痕量(10-12) 元素分析技術。可測定元素周期表中大部分元素，極低的檢出限、極寬的動態線性范圍、譜線簡單、干擾少、精密度高、分析速度快、可提供同位素分析。

電感耦合等離子體質譜儀的應用領域

du品檢測領域ICP-MS法對合成大1麻du品中微量金屬進行分析，測定了Ba、Be、Co、Cr、Cu、Ni、Li、Pb、u、Zn等10中金屬，用CRMNISTl573a馬鈴薯葉片作為認證參考，Sc、Ge、In、Bi作為內標元素。結果顯示：連續測定30組，該方法的準確性和重復性滿足要求，所有測定金屬含量低于世界衛生組織規定的限值。其中，Cu、Zn、Pb、Ni、Co、Cr的含量變化很小，Ba的含量有明顯變化，建議把Ba作為合成大1麻的特征金屬，為以后的測定提供參考。

ICP-MS基本原理

樣品進行ICP-MS分析時一般經過以下四步：

1）分析樣品通常以水溶液的氣溶膠形式引入ya氣流中,然后進入由射頻能量激發的處于大氣壓下的ya等離子體中心區；

2）等離子的高溫使樣品去溶劑化、汽化解離和電離；

3）部分等離子體經過不同的壓力區進入真空系統,在真空系統內,正離子被拉出并按其質荷比分離；

4）檢測器將離子轉化為電子脈沖,然后由積分測量線路計數；電子脈沖的大小與樣品中分析離子的濃度有關,通過與已知的標準或參比物質比較,實現未知樣品的痕量元素定量分析。

電感耦合

炬管通常是垂直放置的，等離子體激發基態原了的電了至較高能級，當較高能級的電子“落回”基態時，就會發射出某一待測元素的特定波長的光子。在電感耦合等離子體質譜儀中，等離子體炬管都是水平放置的，用于產生帶正電荷的離子，而不是光子。實際上，電感耦合等離子體質譜儀分析中要盡可能阻止光子到達檢測器，因為光子會增加信號的噪聲。