6分鐘前 徐州通用燒錄器報價來電垂詢「蘇州特斯特」[蘇州特斯特31ff5f9]內(nèi)容：超聲波掃描顯微鏡特點：非破壞性、對樣品無損壞。分辨率高，可確定缺陷在樣品內(nèi)部的準確位置。工作方式按接收信息模式可分為反射模式與透射模式。按掃描方式分可分為 C掃，B掃，X掃，Z掃，分焦距掃描，分波長掃描等多種方式。二次打標假l冒識別塑封器件二次打標可用于塑封元器件表面標識的假l冒識別，通過對期間標識層的多層掃描可發(fā)現(xiàn)二次打標痕跡。

自動聚焦顯微鏡的研究在高倍率顯微圖像的處理過程中,自動聚焦具有重要意義。本文對動態(tài)自動聚焦顯微鏡的清晰度自動檢測系統(tǒng)和高精度位置隨動系統(tǒng)進行了分析,提出了理想的清晰度檢測方法評價參數(shù)的特征,敘述了微分峰值檢測法的原理、實驗結(jié)果、 控制系統(tǒng)的設(shè)計和整機性能評價。如有您需要訂購，歡迎來電咨詢我們公司，為您提供詳細介紹！

EMMI微光顯微鏡

微光顯微鏡（Emission Microscope, EMMI）是常用漏電流路徑分析手段。對于故障分析而言，微光顯微鏡（Emission Microscope, EMMI）是一種相當有用且效率極高的分析工具。主要偵測IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中，EHP（Electron Hole Pairs）Recombination會放出光子（Photon）。如在P-N結(jié)加偏壓，此時N阱的電子很容易擴散到P阱，而P的空穴也容易擴散至N，然后與P端的空穴（或N端的電子）做EHP Recombination。在故障點定位、尋找近紅外波段發(fā)光點等方面，微光顯微鏡可分析P-N接面漏電；P-N接面崩潰；飽和區(qū)晶體管的熱電子；氧化層漏電生的光子激發(fā)；Latch up、Gate Oxide Defect、Junction Leakage、Hot Carriers Effect、ESD等問題.