對比試樣校準類型

1.渦流-當載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時，由于高頻磁場的作用而使金屬體內產生渦流，此渦流所產生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關，因而根據探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

2.同位素-利用物質厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

對比試樣校準示值顯現不穩定？

致使涂層測厚儀示值顯現不穩定的要素主要是來自工件本身的資料和構造的特別性，比方工件本身是不是為導磁性資料，假如是導磁性資料咱們就要挑選磁性涂層測厚儀，假如工件為導電體，咱們就得挑選渦流涂層測厚儀。再者，被測件的外表粗糙度和附著物也是致使儀器示值顯現不穩定的重要要素，測厚儀的探頭對那些阻礙與覆蓋層外表緊密觸摸的附著物質極其靈敏。有必要確保探頭與覆蓋層外表直觸摸摸。因而，掃除此種毛病的關鍵即是：測量前鏟除被測件觸摸面的塵埃、細屑、油脂及腐蝕產物等附著物，但不要除去任何覆蓋層物質。再有即是在進行體系調零時，所運用的基體外表也有必要是清洗、潤滑的。如感受測量成果差錯比較大時，請先用儀器裝備的塑料校準片做一輪測驗，如違背答應差錯較遠則有也許是儀器本身出了問題，需返廠家檢修。在體系校按時沒有挑選適宜的基體。基體平面為7mm，小厚度為 0.2mm，低于此臨界條件測量是不可靠的。

對比試樣校準聲速調節

超聲波測厚儀的聲速變了，測量值就會變。例，在調節聲速時，按一下“ENTER”鍵則聲速快速地調整為5900M/S。在菜單中選擇“聲速”或“聲速調整”，按住“CAL”或“校準”鍵兩秒左右，聲速就快速地調整為5900M/S，再按“ENTER”或“確認”鍵，就返回到測量狀態。如果測量還存在誤差，測量儀器上的標準試塊，液晶應該顯示“4.0”或“4.00mm”，若是其數字，則在一邊測量試塊一邊按住“CAL”或“校準”鍵2秒左右，直到數字變成“4.0”或“4.00mm”，即完成了對儀器的校準，就可以準確無誤地進行測量了。