CT檢測發展

一代CT使用單源(一條射線)單探測器系統，系統相對于被檢物作平行步進式移動掃描以獲得N個投影值(1值),被檢物則按M個分度作旋轉運動，被檢物僅需轉動180%。代CT機結構簡單、成本低、圖像清晰,但檢測效率低，在工業CT中已經很少采用。

二代CT是在第代CT基礎上發展起來的。使用單源小角度扇形射線束多探頭，射線扇束角小、探測器數目少，因此扇束不能全包容被檢斷層,其掃描運動除被檢物作M幾個分度旋轉外，射線扇束與探測列架還要一起相對于被檢物作平移運動。在至全都覆蓋被檢物，得到所需的成像數據。

CT檢測原理

工業CT是在射線檢測的基礎上發展起來的，其基本原理是：讓一束X射線投射在物體上，通過物體對X射線的吸收（多次投影）便可獲得物體內部的物質分布信息。

當強度為I0的一個窄束X射線穿過吸收系數為的物體時，其強度滿足指數衰減關系：

式中為X射線所穿過物質層厚度。在實際情況中，所研究的物體往往不是由單一成分組成的，當物體由若干個不同成分組成時，物體內部各處的穿透率也將可能不同。

CT檢測應用閃爍體的分立探測器的主要優點

應用閃爍體的分立探測器的主要優點是：閃爍體在射線方向上的深度可以不受限制，從而使射入的大部分光子被俘獲，提高探測效率。尤其在高能條件下，可以縮短獲取時間；因為閃爍體是獨立的，所以幾乎沒有光學的竄擾；同時閃爍體之間還有鎢或其他重金屬隔片，降低了X射線的竄擾。分立探測器的讀出速度很快，在微秒量級。同時可以用輸出脈沖來選通數據采集，限度減小信號上疊加的噪聲。分立探測器對于輻射損傷也是不敏感的。

CT檢測常用掃描方式介紹

工業CT常用的掃描方式是平移—旋轉(TR)方式和只旋轉(RO)方式兩種。只旋轉掃描方式無疑具有更高的射線利用效率，可以得到更快的成像速度；然而，平移—旋轉的掃描方式的偽像水平遠低于只旋轉掃描方式；可以根據樣品大小方便地改變掃描參數（采樣數據密度和掃描范圍），特別是檢測大尺寸樣品時其優越性更加明顯；源—探測器距離可以較小，提高信號幅度；以及探測器通道少可以降低系統造價便于維護等。