廣州景頤光電科技有限公司于2013年成立于廣州市。公司是研發生產光纖光譜儀和拉曼光譜儀等分析儀器的光學企業。擁有自主知識產權，擁有國內外的光學、機械、電子和軟件等的設計人員。

公司是從零件到系統層次，真正掌握核心技術和有研發設計能力的公司，我們是自己研發設計生產光纖光譜儀和拉曼光譜儀及其相關產品。產品主要應用于安檢、環境、氣體、食品、藥品檢測等領域。

主要產品有光纖光譜儀、小型拉曼光譜儀、分析光源系列產品、光譜分析儀、光學儀器附件等。其中光纖光譜儀既可以單獨作為分析測量儀器也可以作為其它儀器的探測模塊。

漫反射目標板涂以高漫反射材料和高度穩定的調色系統，可用于激光測距和傳統的遙感輻射定標。該目標板的典型反射比值從2%-94%不等，是在250-2500nm的波長范圍內常見的朗伯特反射體。

星上漫反射的雙向反射分布函數 BRDF（Bi-directional ReflectanceDistribution Function）的測量是對探測波段在紫外和可見的星載儀器定標的重要方面，且漫反射的雙向反射分布函數與光線的入射角度相關，由于一年四季太陽的運動，太陽光輻射入射至星上漫反射板的角度也隨之變化，因此準確測量星上漫反射板的 BRDF 是必需的。反射板反射率可選

星上輻射定標核心部件—漫反射板的半球反射率將受到太陽紫外輻照和氧原子剝蝕等空間環境因素的影響。為減小漫反射板反射率變化的影響，紫外可見高分辨率成像光譜儀采用多漫反射板系統，實現對漫反射板反射率變化的監測。反射板反射率可選

漫反射率的測量有相對測量法和測量法，相對測量法先測出被測目標的漫反射能量和已知反射率的標準反射板的漫反射能量，再用其比乘以標準反射板的漫反射率，即可得到被測目標漫反射率。測量法則不使用標準反射板定標，直接根據入射光、漫反射光能量和發射接收光學系統參數計算漫反射率。

在實際應用中，由于目標的漫反射特性與朗伯體并不完全一致，其反射特性可能會隨角度變化( 即K值的理論值并不完全按余弦規律變化) ，所以測量角度的選擇會對測量結果帶來一定的影響，導致精度下降。但對于景頤光電的漫反射目標板，其偏離程度不會太大，測試結果仍具有一定的科研指導意義。

為消除光源不均勻、探測器內部暗電流、AOTF空間衍射效率分布不均、鏡頭不同位置透射率差異及相機內部探測器像元不同響應等因素對結果造成的影響，需要對原始高光譜圖像進行反射率校正，得到相對反射率高光譜圖像。反射板反射率可選

在相同條件下，采集樣本高光譜圖像、系統暗噪高光譜圖像（裝上鏡頭蓋后進行高光譜圖像采集）和99%標準反射率標定板的高光譜圖像。反射板反射率可選

在高光譜研究中，反射率校正后所獲得的光譜數據除包含樣品指標自身信息外，還包含一些無關信息和噪聲。光譜預處理則是指通過數學矩陣變換的手段，對光譜數據進行降噪與去冗余處理，提高數據自身信噪比，為后續模型建立提供相對“干凈”的數據，以提高函數的預測能力。反射板反射率可選