對比試樣校準(zhǔn)原理

1. 復(fù)型測量法 一種間接的測量方法，通過將可塑性材料充滿在人工缺陷內(nèi)，經(jīng)過凝固成型后取出，直觀、形象、逼 真地再現(xiàn)人工缺陷的立體形貌，取點(diǎn)、線、斷面采用相應(yīng)精度的量具對人工缺陷長度、寬度、深度測量，獲 得人工缺陷的尺寸數(shù)據(jù)。

2. 顯微測量法 直接通過讀數(shù)顯微鏡對人工缺陷放大后，以光學(xué)成像或聚焦方法瞄準(zhǔn)邊緣輪廓或表面，通過X、Y、Z軸在缺陷上移動的距離直接測量人工槽的長度、寬度、深度及通孔的直徑。

對比試樣校準(zhǔn)測量注意事項(xiàng)：

⒈在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

⒉測量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

⒊測量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測量時(shí)要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。

⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

⒍測量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因?yàn)橐话愕臏y厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

⒎在測量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。

⒏在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

對比試樣校準(zhǔn)分類

1.超聲波-在各種介質(zhì)中的聲速是不同的，但在同一介質(zhì)中聲速是一常數(shù)。超聲波在介質(zhì)中傳播遇到第二種介質(zhì)時(shí)會被反射，測量超聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時(shí)間，即可將這間隔時(shí)間換算成厚度。在電力工業(yè)中應(yīng)用較廣的就是這類測厚儀。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核工件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導(dǎo)體收音機(jī)相近，厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對于鋼材，較大測定厚度達(dá)2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之間。

2.磁性-在測定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時(shí)，測定值會因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

對比試樣校準(zhǔn)測量方法

覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中有五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。 X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍較小。因有射線源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。