鋼研納克電感耦合等離子體質譜儀PlasmaMS 300 儀器特點

1. 石英、耐氫1氟酸等豐富多樣的進樣系統；分立式矩管，便于拆卸維護；可選配半導體制冷進樣裝置和自動進樣系統。

2. 27.12MHz全固態RF發生器，實現極高的穩定性；自動匹配速度快，保證了點火成功率

3. 雙錐接口，可在真空狀態下直接拆卸維護

4. 大范圍準確可調的三維平臺，實現矩管全自動定位和校準

5. 雙離軸離子傳輸（偏轉）系統，去除不帶電粒子，保證低噪聲和高靈敏度

6. He氣碰撞池匹配性能高質量流量控制器，有效去除多離子干擾

7. 高通量的長四極桿，質量范圍2-265amu，分辨率<0.8amu；應用的DDS技術，實現自動頻率匹配，保證離子有效篩選

8. 雙模式檢測器，脈沖計數和模擬計數檢測，高達9個數量級線性范圍

9.兩只獨立分子泵組合而成的性能高雙渦輪分子泵真空系統和全自動監控系統，確保穩定性和靈敏度

10. 無處不在的屏蔽處理，保護實驗人員安全和儀器穩定

11. 通過多項可靠性實驗的考驗，保證儀器運行和穩定

12. 人性化的工作軟件

PlasmaMS 300 鋼研納克

中文軟件界面，符合中國人操作習慣，用戶靈活保存檢測方法

全方面的狀態監控輸出，錯誤主動提示，問題一目了然，極大方便日常維護

帶有LIMS接口，滿足第三方實驗室的需求

ICP-MS簡述

20世紀60年代末期，采用電感耦合等離子體源的原子光譜技術成為當時應用于微量元素分析的一項非常有前

途的技術（Greenfield等，1964； Wendt與Fassel, 1965）。但在分析超低含量物質時由于背景光譜增強，光譜干擾

嚴重使分析靈敏度和準確度達不到要求。只有質譜法能同時滿足譜圖簡單、分辨率適中和較低檢出限的要求。因此， ICP-AES所具有的樣品易于引入、分析速度快、多元素同時分析的特點與質譜儀的聯用成為科學和商業上研究的

熱點。1970年許多公司深入的參與了該技術的研究，CP作為發射源使等離子體中分析物有效電離能夠滿足新一代

儀器源的要求。同時也注意到惰性氣體在大氣壓下的電等離子體可能是一個很好的離子源。因此人們采用四極桿 質量分析器和通道式離子檢測器開展可行性研究。Gral在70年代中期首先報道了用等離子體作為離子源的質譜分 析法。1981年Gray在Surrey實驗室設計完成了 ICP源上所預期性能的設備，獲得了張ICP譜圖。1983年英 國VG公司與加拿大Sciex公司推出商業化的ICP-MS，1984年在用戶實驗室才安裝ICP-MS。在此以后 ICP-MS在化學分析中廣泛應用開來。

ICP-MS理想的樣品制備應該達到以下幾條標準

? 將固體和液體樣品轉換為澄清溶液

? 完全消解了所有的有機物質

? 保留所有目標檢測元素，并且元素濃度在儀器的檢測范圍內

? 未引入新的干擾離子

? 將樣品的粘度和固體物含量調節到適合分析的范圍

? 確保所有的樣品容器都進行過酸液浸泡的前處理，以保證的檢出限

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ICP-MS分析流程的建立

對于一種新基體的樣品來說，常規的分析路徑如下：

1. 酸化或溶解樣品

樣品一般需要先進行酸化溶解使目標元素溶解在液體中.

2. 選擇目標分析物和目標同位素

根據濃度范圍來選擇分析物和同位素。

3. 先進行掃描以便識別出存在的干擾

可以先進行半定量掃描，可以通過半定量掃描判斷大致存在哪些元素以及各個元素 的大致濃度范圍。

4. 選擇數據的采集模式以及校正曲線的類型

一般如果使用連續流的數據采集模式，會使用外標定量法。也有其他的數據評估方

法可以使用。

5. 選擇合適的內標元素

內標元素的使用可以校正由于時間或基體抑制效應引起的信號漂移。

6. 能進行基體匹配

將標樣的基體匹配到和您的樣品基體完全一致，可以將兩者之間的差異減小到小， 并且有助于得到更為準確的結果數據。

7. 進行質量控制校正（QC check）

在分析過程中插入另一來源的標樣(2nd Source Standard)或者有證標準物質 (Certified Reference Material)，確保數據的完整性。