SC故障

SC故障是安川變頻器較常見的故障。IGBT模塊損壞，這是引起SC故障報(bào)警的原因之一。此外驅(qū)動(dòng)電路損壞也容易導(dǎo)致SC故障報(bào)警。安川在驅(qū)動(dòng)電路的設(shè)計(jì)上，上橋使用了驅(qū)動(dòng)光耦PC923，這是于驅(qū)動(dòng)IGBT模塊的帶有放大電路的一款光耦，安川的下橋驅(qū)動(dòng)電路則是采用了光耦PC929，這是一款內(nèi)部帶有放大電路，及檢測(cè)電路的光耦。此外電機(jī)抖動(dòng)，三相電流，電壓不平衡，有頻率顯示卻無電壓輸出，這些現(xiàn)象都有可能是IGBT模塊損壞。IGBT模塊損壞的原因有多種，首先是外部負(fù)載發(fā)生故障而導(dǎo)致IGBT模塊的損壞如負(fù)載發(fā)生短路，堵轉(zhuǎn)等。其次驅(qū)動(dòng)電路老化也有可能導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)波形失真，或驅(qū)動(dòng)電壓波動(dòng)太大而導(dǎo)致IGBT損壞,從而導(dǎo)致SC故障報(bào)警，此時(shí)h將所有光耦更換，驅(qū)動(dòng)側(cè)電解電容也較容易老化致容量失效，也應(yīng)更換。

運(yùn)放與比較器區(qū)別

運(yùn)算放大器與比較器在變頻器主控板的控電路中比較常見，它的作用也不用我去形容了，做這行的都比我清楚。

1、 運(yùn)放可以連接成為比較輸出，比較器就是比較。那么市面上為何單獨(dú)出售兩種產(chǎn)品，他們有相同和不同之處是什么呢?

2、 比較器輸出一般是OC便于電平轉(zhuǎn)換;比較器沒有頻補(bǔ)，SLEW RATE比同級(jí)運(yùn)放大，但接成放大器易自激。

比較器的開環(huán)增益比一般放大器高很多，因此比較器正負(fù)端小的差異就引起輸出端變化。

變頻器維修行業(yè)面臨的挑戰(zhàn)

產(chǎn)品更新加快，維修技能不足

變頻器從投入市場(chǎng)至今大約三十年左右的時(shí)間，已經(jīng)從一代變頻器發(fā)展到了現(xiàn)在的第四代產(chǎn)品，更新速度極快，而且每代產(chǎn)品氣的控制方式都各不相同。一代產(chǎn)品采用正弦脈寬調(diào)制(SPWM)，第二代產(chǎn)品采用電壓空間矢量又稱SVPWM控制方式，第三代產(chǎn)品則采用矢量控制，如今已經(jīng)步入第四代產(chǎn)品，采用直接扭矩控制。產(chǎn)品更新速度之快，對(duì)變頻器維修人員的技能要求越來越苛刻，需要不斷保持學(xué)習(xí)，掌握新的維修技能才能適應(yīng)新產(chǎn)品的需求。

模塊化設(shè)計(jì)，增加維修難度

隨著新型電力電子器件和微處理器的應(yīng)用以及控制技術(shù)的發(fā)展，模塊化設(shè)計(jì)與生產(chǎn)已經(jīng)成為一種趨勢(shì)。模塊化簡(jiǎn)單來說就是將同一種功能的所有元器件封裝在一起，這樣，一個(gè)產(chǎn)品只是有幾個(gè)不同功能的模塊合而成。產(chǎn)品模塊化與元件級(jí)維修將構(gòu)成矛盾，這勢(shì)必會(huì)導(dǎo)致傳統(tǒng)變頻器維修行業(yè)重新洗牌，僅僅通過簡(jiǎn)單的電子儀器儀表檢測(cè)元件的檢修方式勢(shì)必會(huì)被淘汰。因此，掌握新的檢修技術(shù)已是變頻器維修不可缺少的技能。

經(jīng)歷大約30年的研發(fā)與應(yīng)用實(shí)踐，隨著新型電力電子器件和微處理器的應(yīng)用以及控制技術(shù)的發(fā)展，變頻器的性能價(jià)格比越來越高，體積越來越小，而廠家仍然在不斷地提高可靠性實(shí)現(xiàn)變頻器的進(jìn)一步小型輕量化、化和多功能化以及無公害化而做著新的努力。對(duì)于變頻器維修行業(yè)，必須保持與時(shí)俱進(jìn)，不斷掌握新的維修技能，才能適應(yīng)新時(shí)代的要求。