低本底的測(cè)量方式

北京易達(dá)測(cè)量技術(shù)有限公司生產(chǎn)、銷售低本底，我們?yōu)槟治鲈摦a(chǎn)品的以下信息。如有需要，歡迎撥打熱線電話進(jìn)行咨詢。

1、可以同時(shí)測(cè)量αβ，也可單獨(dú)測(cè)α或β；

2、測(cè)量過程和測(cè)量結(jié)果可在顯示器上顯示，并可打印結(jié)果；

3、測(cè)量時(shí)間、探測(cè)器的α閾值、β低閾(βL)、β高閾(βH)和高壓都可根據(jù)要求，通過計(jì)算機(jī)調(diào)節(jié)。

低本底的鉛室

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鉛室

1、分體式全新上層鉛室，結(jié)構(gòu)緊湊，更小體積，屏蔽效果更好

2、一體化下層鉛室，重點(diǎn)心下移，安全可靠

3、可拆卸中間層，安裝拆卸獨(dú)立，方便，提供單通道，雙通道，四通道及六通道送樣抽屜

4、低本底（對(duì)α<8cp6000s, 對(duì)β<230cp6000s）

適用于低本底αβ測(cè)量?jī)x的藍(lán)光雙閃晶體勘探器是怎么樣的呢？

本實(shí)用新型供給一種于低本底αβ測(cè)量?jī)x藍(lán)光雙閃晶體勘探器,包含順次相銜接的勘探器,光電倍增管,前置放大器,所述前置放大器與操控端進(jìn)行銜接,所述勘探器包含塑料閃耀體,避光層,所述避光層盤繞塑料閃耀體外圍,并向塑料閃耀體的前方凸出.所述于低本底αβ測(cè)量?jī)x藍(lán)光雙閃晶體勘探器經(jīng)過設(shè)置的塑料閃耀體能夠有顯著效果地的對(duì)α,β進(jìn)行一起檢測(cè),互不影響,一起塑料閃耀體產(chǎn)品外表涂層結(jié)實(shí),是低本底αβ檢測(cè)儀中核心部件,與低噪聲的光電倍增管地點(diǎn)的光波敏感區(qū)域緊契合,不怕污染,可清洗.

低本底αβ測(cè)量?jī)x觸及輻射丈量技術(shù)領(lǐng)域,詳細(xì)公開了一種適用于四路低本底αβ測(cè)量?jī)x的反契合設(shè)備,包含四個(gè)主勘探器,三個(gè)反契合勘探器,設(shè)于主勘探器和反契合勘探器之間的樣品盤抽拉設(shè)備以及反契合晶體.本發(fā)明針對(duì)四路低本底αβ測(cè)量?jī)x,挑選三個(gè)反契合勘探器兩兩等距離擺放進(jìn)行勘探,在統(tǒng)籌經(jīng)濟(jì)的前提下,有用降低了本底,確保了儀器弱小水平的準(zhǔn)確丈量.

低本底技術(shù)指標(biāo)

（1）探測(cè)器：φ75mm×75mm的NAL晶體

（2）總道數(shù)：512、1024、2048、4096道任選，實(shí)際應(yīng)用道數(shù)：2048道

（3）能量分辨率：＜7.5%（137Cs）

（4）微分非線性：＜0.05%

（5）積分非線性：＜0.1%

（6）直流電源紋波:≤1mVrms

（7）高壓電源紋波:≤20mV

（8）系統(tǒng)穩(wěn)定性:≤1%

（9）數(shù)據(jù)通過率:>333kcps

（10）脈沖對(duì)分辨率：500ns

（11）分析誤差:符合GB6566-2010《礦產(chǎn)地質(zhì)分析測(cè)試實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量保證規(guī)范》（EJ/T751-93）的要求

（12）分析范圍238U:（37～1×106）Bg226Ra:（37～1×106）Bg232Th:（12～4×105）Bg40K：0.1%～

（13）測(cè)量不確定度（樣品活度＞37Bq）<10%

（14）使用條件溫度：+5℃～+35℃濕度：≤90%電源：220V±10%50Hz

（15）鉛屏蔽室尺寸及重量：680mm×105mm×235mm900kg37～1×106）Bg232Th:（12～4×105）Bg40K：0.1%～