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公司基本資料信息
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測厚儀
材料的鍍層厚度是一個重要的生產(chǎn)工藝參數(shù),其選用的材質和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果、導電性、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命,因此,鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開發(fā)的EDX8000B鍍層測厚儀是專門針對于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測定。其主要優(yōu)點是準確,快速,無損,操作簡單,測量速度快。可同時分析多達五層材料厚度,并能對鍍層的材料成分進行快速鑒定。
英飛思XRF鍍層測厚儀優(yōu)勢
>微光斑X 射線聚焦光學器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域,實現(xiàn)高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)
高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)
的點位測量功能有助于提高測量精度。
>全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件,可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量
配合用戶友好的軟件界面,可以輕松地進行日常測量。