x射線發生裝置的分類

X射線衍射儀分為單晶衍射儀和多晶衍射儀兩種。單晶衍射儀的被測對象為單晶體試樣，主要用于確定未知晶體材料的晶體結構。基本原理：在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規律，也即解出晶體的結構。

x射線發生裝置解決哪些問題？

（1）當材料由多種結晶成分組成，需區分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。

（2）很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。

（3）新材料開發需要充分了解材料的晶格參數，使用XRD可快捷測試出點陣參數，為新材料開發應用提供性能驗證指標。

（4）產品在使用過程中出現斷裂、變形等失效現象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力。

（5）納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數據。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。

x射線發生裝置-地質,礦產

在研究行星進程和地球構造過程中，地理學家們需要分析巖石和礦物樣品的組成。X射線衍射儀分析技術如：小點激發，分布分析和無標定量分析，日漸成為地質研究及礦物學研究領域內的主要儀器。X射線衍射儀(XRD)可定量測量相組成。X射線衍射數據的Rietveld分析被認為是晶體相定量分析適合的方法。技術和經驗為這些判定提供了一系列解決方案。