5分鐘前 高速燒錄器設(shè)備來電咨詢 蘇州特斯特電子[蘇州特斯特31ff5f9]內(nèi)容：超景深顯微鏡工作距離長，清晰范圍大，附件齊全操作方便。可廣泛應(yīng)用于衛(wèi)生，農(nóng)林地質(zhì)，電子精密機(jī)械等行業(yè)和部門，特別適合于LED，PCB檢驗，沖壓電鍍檢驗，電子元件檢驗。超景深顯微鏡觀察物體時能產(chǎn)生正立的三維空間像,立體感強(qiáng)，成像清晰和寬闊，具有較長的工作距離是適用范圍非常廣泛的常規(guī)顯微鏡。歡迎來電咨詢！

超聲波掃描顯微鏡測試分類：

按接收信息模式可分為反射模式與透射模式。

按掃描方式分可分為 C掃，B掃，X掃，Z掃，分焦距掃描，分頻率掃描等多種方式

超聲波掃描顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體電子行業(yè)：半導(dǎo)體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;

材料行業(yè)：復(fù)合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導(dǎo)材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等；

生物醫(yī)學(xué)：細(xì)胞動態(tài)研究、骨骼、血管的研究等.

塑料封裝IC、晶片、PCB、LED

超聲波掃描顯微鏡應(yīng)用范圍：

超聲波顯微鏡的在失效分析中的優(yōu)勢

非破壞性、無損檢測材料或IC芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)

可分層掃描、多層掃描

實施、直觀的圖像及分析

缺陷的測量及缺陷面積和數(shù)量統(tǒng)計

可顯示材料內(nèi)部的三維圖像

對人體是沒有傷害的

可檢測各種缺陷（裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等）

微光顯微鏡偵測不到亮點之情況：不會出現(xiàn)亮點的故障 - 歐姆接觸；金屬互聯(lián)短路；表面反型層；硅導(dǎo)電通路等。亮點被遮蔽之情況 - Buried Juncti及Leakage sites under metal，這種情況可以采用backside模式，但是只能探測近紅外波段的發(fā)光，且需要減薄及拋光處理。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測試、檢測儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測試與檢測。

微光顯微鏡光發(fā)射顯微鏡是器件分析過程中針對漏電失效模式，的分析工具。器件在設(shè)計、生產(chǎn)制造過程中有絕緣缺陷，或者期間經(jīng)過外界靜穿，均會造成器件漏電失效。漏電失效模式的器件在通電得狀態(tài)下，內(nèi)部形成流動電流，漏電位置的電子會發(fā)生遷移，形成電能向光能的轉(zhuǎn)化，即電能以光能的方式釋放，從而形成200nm~1700nm紅外線。光發(fā)射顯微鏡主要利用紅外線偵測器，通過紅外顯微鏡探測到這些釋放出來的紅外線，從而的定位到器件的漏電點。